Author Affiliations
Abstract
1 State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, College of Electronic Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130012, China
2 Key Laboratory for Quantum Optics and Center for Cold Atom Physics of CAS, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
3 e-mail: gongwl@siom.ac.cn
The features of the characteristic matrix used in linear intensity correlation reconstruction methods are directly related to the quality of ghost imaging. In order to suppress the noise caused by the off-diagonal elements in the characteristic matrix, we propose a reconstruction method for ghost imaging called scalar-matrix-structured ghost imaging (SMGI). The characteristic matrix is made to approximate a scalar matrix by modifying the measurement matrix. Experimental results show that SMGI improves the peak signal-to-noise ratio of the object reconstruction significantly compared with differential ghost imaging, even in the case of a nonzero two-arm longitudinal difference, which is a promising result for practical applications.of China (2013AA122901); National Natural Science Foundation of China (NSFC) (61571427); Youth Innovation Promotion Association of the Chinese Academy of Sciences (2013162).
Image formation theory Image formation theory Coherence imaging Coherence imaging Speckle Speckle Photonics Research
2016, 4(6): 06000281
吉林大学 电子科学与工程学院集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区,吉林 长春 130012
高功率阵列半导体激光器已得到广泛应用,对其质量和可靠性进行无损检测很有必要。在导数测试技术中,参数h是电导数曲线阈值处的下沉高度,参数Q是二阶光导数曲线阈值处的峰的高宽比。对导数测试参数h,Q与阵列激光器的单元器件的质量和均匀性进行了研究。基于其等效电路在一定条件下,计算了阵列激光器的均匀性对h的影响。并对实际阵列器件进行了导数测试。理论和实验结果对比表明,h,Q等参数是组成阵列的各管芯的均匀性的灵敏参数。
激光器 阵列半导体激光器 可靠性检测 导数技术
1 Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China
2 College of Electronic Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130012, China
3 Department of Electronics and Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China
Frontiers of Optoelectronics
2008, 1(1): 70
吉林大学电子科学与工程学院,集成光电子国家重点实验室吉林大学实验区, 吉林 长春 130012
为实现对高功率半导体激光器快速、有效、无损的质量检测和可靠性筛选,对器件进行了电导数和光导数测试及分析。结果表明高功率半导体激光器的结电压饱和特性与其质量和可靠性紧密相关。结电压饱和特性不好的器件一般都存在某种缺陷,结电压饱和特性的差异超出一定范围的同种类器件一定是质量和可靠性差的器件。因此,阈值处电导数曲线的下沉高度h值可作为器件筛选的一个判据。用模拟测量的方法,对阵列器件和组成它的单元器件的电压饱和特性的相关性进行了研究,阵列器件的电压饱和特性与组成它的单元器件的一致性(均匀性)紧密相关。均匀性不好的器件的电压饱和特性也不好。
激光器 可靠性检测 导数技术 高功率半导体激光器
1 吉林大学电子科学与工程学院集成光电子学国家重点联合实验室, 吉林 长春 130012
2 吉林大学物理科学学院, 吉林 长春 130026
对大功率InGaAsP/GaAs量子阱(QW)半导体激光器(LD)的直流(DC)特性和小注入下的低频噪声(LFN)特性进行了实验研究。DC检测发现,V-I和IdV/dI-I可以对LD的电流泄漏作出判断。LFN检测发现,小注入下的1/f低频电压噪声幅值BV(I)∝IβV。理论分析和老化实验均表明,电流指数βV与载流子输运和电流泄漏机制之间有很好的相关性,存在电流泄漏和无辐射复合的器件其βV较小,可靠性较差。
激光器 半导体激光器 可靠性 1/f噪声 直流特性 电流泄漏
